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第17回高温エレクトロニクス研究会
−デバイスの信頼性と熱−
本年度は「デバイスの信頼性と熱」をテーマとして、この分野の第一線の研究者の方々にご講演をいただきます。エレクトロニクスの熱問題を、「機器の熱設計」、「デバイスの信頼性確保とスクリーニング」、「LSI の極微細化に伴う発熱問題」、「最先端の高温デバイス」などの観点から理解することを趣旨としております。
詳細
| 開催日 | 2007年2月26日（月）13：30〜18：15 |
|---|---|
| 参加費 | 無料（事前申し込み不要） |
| 場所 | 〒229-8510 相模原市由野台3-1-1 宇宙航空研究開発機構 宇宙科学研究本部 相模原キャンパス 本館２階大会議室 |
| 交通 | JR横浜線淵野辺駅南口下車徒歩約20分 小田急線相模大野駅北口下車神奈中バス（5番乗り場全て乗車可） 「宇宙科学研究本部」下車、徒歩5分 |
| 問い合わせ先 | 宇宙科学研究本部 宇宙探査工学研究系 助教授 廣瀬和之 助 手 小林大輔 メールアドレス：hte@isas.jaxa.jp 電話：042-759-8326／8328 |
プログラム（敬称略、講演時間は質疑を含めて35分）
| 13:30 - 14:05 | 民生用・産業用 エレクトロニクス機器周辺の熱問題 | 沖電気工業 国峯 尚樹 |
|---|---|---|
| 14:05 - 14:40 | 半導体でバイスのスクリーニングと熱加速試験 | 宇宙研 大串 義雄 |
| 14:40 - 15:15 | デバイスの極微細化により顕在化する熱問題 | 芝浦工大 上野 和良 |
| 休憩（15分間） | ||
| 15:30 - 16:05 | カーボンナノチューブのLSI放熱応用 | 富士通研究所 粟野 祐二 岩井 大介 近藤大雄 |
| 16:05 - 17:40 | 温度補償水晶圧力センサ | シュルンベルジェ 佐藤 滋 松本 徳之 宮下 正樹 山手 勉 |
| 17:40 - 18:15 | 低損失SiCパワーでバイスとその熱的信頼性 | ローム 中村 孝 |