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第22回高温エレクトロニクス研究会−デバイス故障診断−
第22回高温エレクトロニクス研究会を、下記のとおり開催いたします。
詳細
| 開催日 | 2012年3月21日（水）13：30〜17：30 |
|---|---|
| 場所 | 〒252-5210 相模原市中央区由野台3-1-1 宇宙航空研究開発機構 宇宙科学研究所 相模原キャンパスA棟2階大会議室 |
| 交通 | JR横浜線淵野辺駅南口下車徒歩約20分 小田急線相模大野駅北口下車神奈中バス（5番乗り場全て乗車可） 「宇宙科学研究本部」下車、徒歩5分 会場（A棟）は、入り口正面の建物です。  |
| 参加費 | 無料（事前申し込み不要） |
| 問い合わせ先 | JAXA宇宙科学研究所 宇宙探査工学研究系 准教授 廣瀬和之 ／ 助教 小林大輔 メールアドレス：hte@isas.jaxa.jp 電話：050-3362-3126 |
プログラム（敬称略、講演時間は質疑応答を含めて35分）
＜本年度のテーマ＞
電子デバイスを高温環境で使用すると，さまざまな故障が起きることがあります．故障箇所を特定して故障現象を明らかにすることは，故障原因を究明して対策をたてるために不可欠なことです．本年度はそのような「デバイス故障診断」に焦点を当てました．この分野の第一線の方々に，最新の故障解析技術やデバイス故障解析の考え方について幅広くご講演をいただきます．皆様奮ってご参加下さい．
| 13：30〜13：35 | はじめに | 廣瀬和之（宇宙研） |
|---|---|---|
| 13：35〜14：10 | レーザ微小領域電界センサーを用いた故障 解析 |
伊藤誠吾，滝口清昭（東大生研） |
| 14：10〜14：45 | テラヘルツ波放射を用いた集積回路診断法の開発 − LSI の故障箇所が見える方法 − | 山下将嗣（理研） |
| 14：45〜15：20 | 電磁場再構成機能を備えた磁気イメージング装置の開発と電子部品故障解析への応用 | 木村建次郎, 美馬勇輝（神戸大）木村憲明（阪大）大藪範昭（京大）稲男健（村田製作所） |
| 15：20〜15：45 | 休憩 | |
| 15：45〜16：20 | レーザボルテージプローブ・ダイナミック診 断Meridian 紹介 |
茂木忍（DCG システムズ） |
| 16：20〜16：55 | 高耐圧パワーMOSFET の故障解析における課題 | 大井明彦（富士電機） |
| 16：55〜17：30 | プリント基板と実装部品の解析サービス＆フォトエミッション顕微鏡 | 丹野雅明（豊通エレクトロニクス） |